Investigador mexicano desarrolla un proceso de medición a partir de fuentes de luz
Determinados científicos, investigadores y académicos de disciplinas como biología, ingeniería mecánica, o de la industria farmacéutica, emplean para sus proyectos elementos de la escala nanométrica (nano corresponde a una mil millonésima parte de un metro). Manipular este tipo de compuestos requiere de herramientas de precisión extrema, al igual que para hacer mediciones de alta exactitud.
Responde a esta necesidad el trabajo profesional del doctor Rodolfo Cortés Martínez, miembro del Centro de Investigación Científica y de Educación Superior (CICESE) en Monterrey, quien ha desarrollado un proceso de medición basado en la interferencia de campos evanescentes en el campo lejano. “Se trata de una técnica no invasiva capaz de medir objetos o compuestos de dimensiones nanométricas sin que sufran ningún daño. De manera que se coloca un objeto a medir entre las fuentes de luz y se considera la separación de ellas, a continuación se hace la cuantificación de las franjas que se generan a través de su periodicidad y considerando nuestra distancia de observación, a fin de que nosotros podamos determinar los diámetros o espesores de objetos que son susceptibles de ser dañados empleando otros instrumentos mecánicos.
“Otra forma distinta de lograrlo es usar una fuente en vez de dos, colocando objetos específicos sobre ella de tal manera que esparzan la luz y para nuevamente capturar su superposición con una cámara muy especializada y nuevamente las franjas de interferencia nos darán una medida de las dimensiones o de la separación entre los objetos inmersos en ese campo de luz”.
Los proyectos en los que se ha empleado la técnica del doctor Cortés Martínez han dado pie a la publicación de dos artículos científicos en revistas internacionales especializadas.
(Jessica Y. Martínez Flores)